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樣品名稱：半導(dǎo)體材料
檢測項(xiàng)目：晶格常數(shù)
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn)：轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍射方法通則； JY/T 009-1996 金屬點(diǎn)陣常數(shù)的測定方法 YB/T5337-2006 III族氮化物外延片晶格常數(shù)測試方法ZKB 0045-2013
所屬行業(yè)分類：
標(biāo)簽： 晶格常數(shù) 半導(dǎo)體材料
