您當前的位置:首頁 > 北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司中心實驗室 > 元器件破壞性物理分析中質量一致性試驗檢測
樣品名稱:元器件破壞性物理分析
檢測項目:質量一致性試驗
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:1、《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各種質量等級軍用半導體器件破壞性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半導體集成電路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半導體分立器件失效分析方法和程序》
所屬行業分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >
標簽: 質量一致性試驗 元器件破壞性物理分析