您當(dāng)前的位置：首頁(yè) > 北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗(yàn)室 > 微電路及器件中篩選試驗(yàn)檢測(cè)
北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗(yàn)室
北京市
樣品名稱：微電路及器件
檢測(cè)項(xiàng)目：篩選試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1、《微電路模塊總規(guī)范》SJ 20668-1998 2、《混合集成電路總規(guī)范》 GJB 2438A-2002 3、《集成電路應(yīng)力試驗(yàn)評(píng)價(jià)》AEC Q100-2007 4、《半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范》GJB597A-1996 5、《半導(dǎo)體器件 第1部分：半導(dǎo)體分
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
