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玻璃離子水門汀產(chǎn)品描述:一般為粉液狀或糊狀。粉劑為可析出離子的金屬氧化物或金屬鹽,如氧化鋅、玻璃粉、氫氧化鈣等;液劑為酸溶液或螯合物等,如磷酸、聚羧酸、水楊酸、丁香酚;部分水門汀含有可聚合樹脂成分。大部分為通過酸堿反應(yīng)固化,含樹脂成分的可通過化學(xué)反應(yīng)或光固化反應(yīng)固化。 玻璃離子水門汀預(yù)期用途:作為永久性置入人體材料,用于修復(fù)體的粘固、窩洞襯層和墊底以及窩洞充填,還可用于蓋髓、根管充...查看詳情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月19日
檢測項:通道間相位差 檢測樣品:微型計算機 標準:GB 28380-2012 微型計算機能效限定值及能效等級
檢測項:多通道放大器中通道間的增益差和相位差 檢測樣品:聲頻功率放大器 標準:聲頻系統(tǒng)設(shè)備 第3部分:聲頻放大器測量方法 GB/T 12060.3-2011
機構(gòu)所在地:廣東省廣州市
檢測項:多通道放大器中的增益差和相位差 檢測樣品:家庭影院用環(huán)繞聲放大器 標準:家庭影院用環(huán)繞聲放大器通用規(guī)范 SJ/T 11217—2000
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:相位差 檢測樣品:邏輯分析儀 標準:邏輯分析儀通用技術(shù)條件和測試方法 GB/T 15471-1995
檢測項:相位差 檢測樣品:邏輯分析儀 標準:邏輯分析儀通用技術(shù)條件和測試方法 GB/T 15471-1995
機構(gòu)所在地:江蘇省昆山市
檢測項:電位差及厚度測試 檢測樣品:鍍層工件 標準:ASTM B764-2004(2009) 多層鎳鍍層中的同步厚度和化學(xué)電勢的標準測量方法
機構(gòu)所在地:江蘇省蘇州市
檢測項:電位差 檢測樣品: 標準:多鎳沉積層中的單一層的同步厚度和電化學(xué)電位測試標準方法 ASTM B764-04(2009)
檢測項:電位差 檢測樣品:涂、鍍層表面 標準:多鎳沉積層中的單一層的同步厚度和電化學(xué)電位測試標準方法 ASTM B764-04(2009)
機構(gòu)所在地:福建省廈門市
檢測項:相位差 檢測樣品:旋轉(zhuǎn)變壓器 標準:GJB929A-1998 旋轉(zhuǎn)變壓器通用規(guī)范
機構(gòu)所在地:河南省洛陽市