中國(guó)北方車(chē)輛研究所測(cè)試中心

檢測(cè)項(xiàng)：溫度沖擊 檢測(cè)樣品：電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB924-90有可靠性指標(biāo)的2類(lèi)瓷介電容器總規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)：高溫貯存 檢測(cè)樣品：電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB924-90有可靠性指標(biāo)的2類(lèi)瓷介電容器總規(guī)

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

深圳市華測(cè)檢測(cè)技術(shù)股份有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：導(dǎo)熱系數(shù) 檢測(cè)樣品：涂層 標(biāo)準(zhǔn)：氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法 GB/T 5598-1985

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

西北機(jī)電工程研究所檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：損耗角正切 檢測(cè)樣品：電容器 標(biāo)準(zhǔn)：《有可靠性指標(biāo)的高壓多層瓷介電容器總規(guī)范》 GJB 1940-1994

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省咸陽(yáng)市 更多相關(guān)信息>>

上海電纜研究所檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：部分項(xiàng)目 檢測(cè)樣品：電力電纜附件 標(biāo)準(zhǔn)：額定電壓35kV（Um = 40.5kV）電力電纜瓷套式終端 JB/T6465-2006

檢測(cè)項(xiàng)：部分項(xiàng)目 檢測(cè)樣品：電力電纜附件 標(biāo)準(zhǔn)：額定電壓1kV（Um=1.2kV）到10kV（Um=12kV）紙絕緣電力電纜瓷套式終端 JB/T6466-2006

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

上海天祥質(zhì)量技術(shù)服務(wù)有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：部分參數(shù) 檢測(cè)樣品：熱水袋 標(biāo)準(zhǔn)：骨質(zhì)瓷器 GB/T 13522-2008

檢測(cè)項(xiàng)：部分參數(shù) 檢測(cè)樣品：瓷器 標(biāo)準(zhǔn)：日用瓷器 GB/T 3532-2009

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)船舶重工集團(tuán)公司第723研究所電工電子設(shè)備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：電感值 檢測(cè)樣品：電感器 標(biāo)準(zhǔn)：《2類(lèi)瓷介電容器總規(guī)范》GJB1314-1991

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省揚(yáng)州市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：內(nèi)部檢查 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB4152-2001《多層瓷介電容器及其類(lèi)似元器件剖面制備和檢驗(yàn)方法》

檢測(cè)項(xiàng)：掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB4152-2001《多層瓷介電容器及其類(lèi)似元器件剖面制備和檢驗(yàn)方法》

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

北京振興計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：損耗角正切 檢測(cè)樣品：電容器 標(biāo)準(zhǔn)：有可靠性指標(biāo)的和沒(méi)有可靠性指標(biāo)的1類(lèi)瓷介電容器總規(guī)范 GJB468-1988

檢測(cè)項(xiàng)：損耗角正切 檢測(cè)樣品：電容器 標(biāo)準(zhǔn)：2類(lèi)瓷介電容器總規(guī)范 GJB1314-1991

檢測(cè)項(xiàng)：漏電流 檢測(cè)樣品：電磁繼電器 標(biāo)準(zhǔn)：有可靠性指標(biāo)的無(wú)包封多層片式瓷介電容器總規(guī)范 GJB192A-1998

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：塑封器件的超聲掃描檢測(cè) 檢測(cè)樣品：瓷介電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

檢測(cè)項(xiàng)：高溫電老煉 檢測(cè)樣品：瓷介電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

檢測(cè)項(xiàng)：塑封器件的超聲掃描檢測(cè) 檢測(cè)樣品：瓷介電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)工程物理研究院計(jì)量測(cè)試中心

檢測(cè)項(xiàng)：制樣鏡檢 檢測(cè)樣品：多層瓷介（獨(dú)石）電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：多層瓷介（獨(dú)石）電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》

檢測(cè)項(xiàng)：引出端強(qiáng)度 檢測(cè)樣品：多層瓷介（獨(dú)石）電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》

機(jī)構(gòu)所在地：四川省綿陽(yáng)市 更多相關(guān)信息>>