亚洲精品欧美综合网,国产精品a久久久久,国产精品亚洲综合,亚洲一区二区在线免费,国产一级片免费在线观看

激光掃描檢眼鏡

簡(jiǎn)介

激光掃描檢眼鏡

簡(jiǎn)介

激光掃描檢眼鏡產(chǎn)品描述：通常由激光光源、激光傳輸裝置和控制裝置等部分組成。發(fā)生強(qiáng)激光（GB 7247標(biāo)準(zhǔn)的3B、4），并應(yīng)用光學(xué)斷層掃描、共焦激光掃描等技術(shù)進(jìn)行檢查診斷的設(shè)備。

激光掃描檢眼鏡預(yù)期用途：用于眼功能和眼部疾患的檢查診斷。

激光掃描檢眼鏡品名舉例：激光掃描檢眼鏡、共焦激光掃描檢眼鏡、激光眼科診斷儀、共焦激光斷層掃描儀、激光間接檢眼鏡

激光掃描檢眼鏡管理類(lèi)別：Ⅲ

激光掃描檢眼鏡產(chǎn)品描述：通常由激光光源、激光傳輸裝置和控制裝置等部分組成。發(fā)生弱激光（小于等于GB 7247標(biāo)準(zhǔn)的3R），并應(yīng)用光學(xué)斷層掃描、共焦激光掃描等技術(shù)進(jìn)行檢查診斷的設(shè)備。

激光掃描檢眼鏡預(yù)期用途：用于眼功能和眼部疾患的檢查診斷。

激光掃描檢眼鏡品名舉例：激光掃描檢眼鏡、共焦激光掃描檢眼鏡、激光眼科診斷儀、共焦激光斷層掃描儀、激光間接檢眼鏡

激光掃描檢眼鏡管理類(lèi)別：Ⅱ

激光掃描檢眼鏡相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：

1、YY/T 1036-2004 壓陷式眼壓計(jì)
2、YY 0634-2008 眼科儀器眼底照相機(jī)
3、YY/T 0633-2008 眼科儀器間接檢眼鏡

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

搜索條件所在地區(qū): 所屬類(lèi)別:

中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：共摸抑制比KCMR 檢測(cè)樣品：晶體三極管標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4587-1994 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分:雙極型晶體管》

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比CMRR 檢測(cè)樣品：模擬集成電路標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4377-1996 《半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理》

檢測(cè)項(xiàng)：鹽霧試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：軍工及民用（航空、航天、兵器和船舶）電氣、電子和機(jī)械類(lèi)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.16-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J及導(dǎo)則：長(zhǎng)霉》

機(jī)構(gòu)所在地：北京市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比KCMR 檢測(cè)樣品：A/D 、D/A轉(zhuǎn)換器標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 SJ/T 10818-1996

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比KCMR 檢測(cè)樣品：模擬開(kāi)關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理》GB/T 14028-1992

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比（誤差放大器）KCMR 檢測(cè)樣品：脈寬調(diào)制器標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脈寬調(diào)制器詳細(xì)規(guī)范》SJ 20294-1993

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽(yáng)市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比KCMR 檢測(cè)樣品：三端穩(wěn)壓電源（電壓調(diào)整器）標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4377-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比CMRR 檢測(cè)樣品：模擬乘法器標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比CMRR 檢測(cè)樣品：模擬乘法器標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測(cè)試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：上海市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
北京東方計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：直流電壓功能共模干擾抑制比檢測(cè)樣品：多功能校準(zhǔn)源標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15637-1995 數(shù)字多用表校準(zhǔn)儀通用技術(shù)條件

檢測(cè)項(xiàng)：直流電壓功能共模干擾抑制比檢測(cè)樣品：多功能校準(zhǔn)源標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15637-1995 數(shù)字多用表校準(zhǔn)儀通用技術(shù)條件

檢測(cè)項(xiàng)：自凈時(shí)間檢測(cè)樣品：掃描開(kāi)關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)：Q/WR.J 284-2011低熱電勢(shì)開(kāi)關(guān)檢測(cè)方法

機(jī)構(gòu)所在地：北京市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
北京市電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：直流電壓共模干擾抑制能力檢測(cè)樣品：數(shù)字多用表標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表通用技術(shù)條件 GB/T 13978—2008

檢測(cè)項(xiàng)：長(zhǎng)霉試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉 GB/T 2423.16—2008 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分：霉菌試驗(yàn) GJB 150.10A—2009

檢測(cè)項(xiàng)：頻段和信道分配檢測(cè)樣品：移動(dòng)臺(tái) 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字移動(dòng)通信終端通用功能技術(shù)要求和測(cè)試方法 YD/T 2307—2011 2GHz WCDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)終端設(shè)備技術(shù)要求（第三階段）

機(jī)構(gòu)所在地：北京市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
西南技術(shù)物理研究所檢測(cè)校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 GB/T 14030-1992

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：電子元器件標(biāo)準(zhǔn)：微電路試驗(yàn)方法和程序GJB 548B-2005

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 GB/T 14030-1992

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：RF器件標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

機(jī)構(gòu)所在地：上海市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
云南昆船電子設(shè)備有限公司藍(lán)海綜合實(shí)驗(yàn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸出共模抑制比檢測(cè)樣品：TTL電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比檢測(cè)樣品：TTL電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：云南省昆明市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十四研究所檢測(cè)/試驗(yàn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：電壓比較器標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10805-2000半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：運(yùn)算放大器標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10738-1996半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算（電壓）放大器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比檢測(cè)樣品：CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B--2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序第4.5節(jié)方法5005.2

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省南京市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們
西南計(jì)算機(jī)有限責(zé)任公司檢測(cè)計(jì)量與軟件測(cè)評(píng)中心

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：電壓比較器標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 GB/T6798-1996

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：電壓比較器標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 GB/T6798-1996

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比檢測(cè)樣品：電壓比較器標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 GB/T6798-1996

機(jī)構(gòu)所在地：重慶市更多相關(guān)信息>>

我要咨詢聯(lián)系我們

激光掃描檢眼鏡

簡(jiǎn)介

激光掃描檢眼鏡

簡(jiǎn)介

中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

北京東方計(jì)量測(cè)試研究所

北京市電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)中心

西南技術(shù)物理研究所檢測(cè)校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司檢測(cè)中心

云南昆船電子設(shè)備有限公司藍(lán)海綜合實(shí)驗(yàn)中心

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十四研究所檢測(cè)/試驗(yàn)中心

西南計(jì)算機(jī)有限責(zé)任公司檢測(cè)計(jì)量與軟件測(cè)評(píng)中心

熱點(diǎn)資訊MORE>

最新資訊MORE>

客戶服務(wù)