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激光掃描檢眼鏡

簡介

激光掃描檢眼鏡

簡介

激光掃描檢眼鏡產品描述：通常由激光光源、激光傳輸裝置和控制裝置等部分組成。發生強激光（GB 7247標準的3B、4），并應用光學斷層掃描、共焦激光掃描等技術進行檢查診斷的設備。

激光掃描檢眼鏡預期用途：用于眼功能和眼部疾患的檢查診斷。

激光掃描檢眼鏡品名舉例：激光掃描檢眼鏡、共焦激光掃描檢眼鏡、激光眼科診斷儀、共焦激光斷層掃描儀、激光間接檢眼鏡

激光掃描檢眼鏡管理類別：Ⅲ

激光掃描檢眼鏡產品描述：通常由激光光源、激光傳輸裝置和控制裝置等部分組成。發生弱激光（小于等于GB 7247標準的3R），并應用光學斷層掃描、共焦激光掃描等技術進行檢查診斷的設備。

激光掃描檢眼鏡預期用途：用于眼功能和眼部疾患的檢查診斷。

激光掃描檢眼鏡品名舉例：激光掃描檢眼鏡、共焦激光掃描檢眼鏡、激光眼科診斷儀、共焦激光斷層掃描儀、激光間接檢眼鏡

激光掃描檢眼鏡管理類別：Ⅱ

激光掃描檢眼鏡相關標準：

1、YY/T 1036-2004 壓陷式眼壓計
2、YY 0634-2008 眼科儀器眼底照相機
3、YY/T 0633-2008 眼科儀器間接檢眼鏡

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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西南計算機有限責任公司檢測計量與軟件測評中心

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檢測項：共模抑制比檢測樣品：電壓比較器標準：半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T6798-1996

檢測項：電源電壓抑制比檢測樣品：電壓比較器標準：半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T6798-1996

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檢測項：共模抑制比檢測樣品：模擬集成電路標準：《半導體集成電路總規范》GJB597A-1996

檢測項：電源電壓抑制比檢測樣品：模擬集成電路標準：《半導體集成電路總規范》GJB597A-1996

檢測項：紋波抑制比檢測樣品：晶體三極管標準：《半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管》 GB/T 4587-1994

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檢測項：共模抑制比KCMR 檢測樣品：電壓比較器標準：GB/T 6798－1996《半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理》

檢測項：部分項目檢測樣品：抑制射頻干擾固定電感器標準：GB/T16512-1996 抑制射頻干擾固定電感器第一部分總規范 IEC 60938-1-1999 抑制射頻干擾固定電感器第一部分總規范

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中國船舶重工集團公司第七二二研究所計量檢測中心

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