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血糖及血糖相關(guān)參數(shù)分析儀器產(chǎn)品描述:通常由主機(jī)模塊、電源模塊、軟件模塊等組成。原理一般為電化學(xué)法、光反射技術(shù)、比色法等。不包含采血器具及適配試劑。 血糖及血糖相關(guān)參數(shù)分析儀器預(yù)期用途:與適配試劑配合使用,用于人體樣本中待測(cè)物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相關(guān)參數(shù)分析儀器品名舉例:血糖分析儀、血糖/尿酸/總膽固醇分析儀、血糖/總膽固醇分析儀、血糖血壓測(cè)試儀、血糖與血...查看詳情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
機(jī)構(gòu)所在地:遼寧省大連市
檢測(cè)項(xiàng):微束分析 檢測(cè)樣品:金屬及金屬制品 標(biāo)準(zhǔn):微束分析 能譜法定量分析 GB/T 17359-2012
檢測(cè)項(xiàng):釩 檢測(cè)樣品:鋼鐵及合金 標(biāo)準(zhǔn):鋼鐵及合金化學(xué)分析方法 硫酸亞鐵銨滴定法測(cè)定釩含量 GB/T 223.13-2000
機(jī)構(gòu)所在地:湖北省武漢市
檢測(cè)項(xiàng):比表面積 檢測(cè)樣品:粉體 標(biāo)準(zhǔn):氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積 GB/T 19587-2004
檢測(cè)項(xiàng):高錳酸鉀消耗量 檢測(cè)樣品:粉體 標(biāo)準(zhǔn):粒度分析 激光衍射法 第1部分:通則 GB/T 19077.1-2008
檢測(cè)項(xiàng):蒸發(fā)殘?jiān)?nbsp;檢測(cè)樣品:粉體 標(biāo)準(zhǔn):粒度分析 激光衍射法 第1部分:通則 GB/T 19077.1-2008
機(jī)構(gòu)所在地:貴州省貴陽(yáng)市
檢測(cè)項(xiàng):比表面積 檢測(cè)樣品:電子及電器工業(yè)用二氧化硅微粉 標(biāo)準(zhǔn):《金屬粉末比表面積的測(cè)定 氮吸附法》 GB/T13390-2008
檢測(cè)項(xiàng):表面質(zhì)量 檢測(cè)樣品:晶體硅 標(biāo)準(zhǔn):《紅外吸收法測(cè)試硅中 替位碳原子含量》 SEMI MF1391-1107
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省連云港市
檢測(cè)項(xiàng):β表面污染 檢測(cè)樣品:巖石 標(biāo)準(zhǔn):HJ/T 61-2001 輻射環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范
機(jī)構(gòu)所在地:陜西省咸陽(yáng)市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):比表面積 檢測(cè)樣品:鎂及鎂合金 標(biāo)準(zhǔn):GB/T13390-2008《金屬粉末比表面積的測(cè)定 氮吸附法》
機(jī)構(gòu)所在地:河南省鄭州市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市