無(wú)損檢測(cè)

無(wú)損檢測(cè)就是Non Destructive Testing，縮寫是NDT（或NDE，non-destructive examination），也叫無(wú)損探傷，是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。

無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)國(guó)家的工業(yè)發(fā)展水平，無(wú)損檢測(cè)的重要性已得到公認(rèn)，主要有射線檢驗(yàn)（RT）、超聲檢測(cè)（UT）、磁粉檢測(cè)（MT）和液體滲透檢測(cè)（PT） 四種。其他無(wú)損檢測(cè)方法有渦流檢測(cè)（ECT）、聲發(fā)射檢測(cè)（AE）、熱像/紅外（TIR）、泄漏試驗(yàn)（LT）、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)（ACFMT）、漏磁檢驗(yàn)（MFL）、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法（RFT）、超聲波衍射時(shí)差法（TOFD）等。

無(wú)損檢測(cè)原理

無(wú)損檢測(cè)是利用物質(zhì)的聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷大小，位置，性質(zhì)和數(shù)量等信息。與破壞性檢測(cè)相比，無(wú)損檢測(cè)有以下特點(diǎn)。第一是具有非破壞性，因?yàn)樗谧鰴z測(cè)時(shí)不會(huì)損害被檢測(cè)對(duì)象的使用性能；第二具有全面性，由于檢測(cè)是非破壞性，因此必要時(shí)可對(duì)被檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行100%的全面檢測(cè)，這是破壞性檢測(cè)辦不到的；第三具有全程性，破壞性檢測(cè)一般只適用于對(duì)原材料進(jìn)行檢測(cè)，如機(jī)械工程中普遍采用的拉伸、壓縮、彎曲等，破壞性檢驗(yàn)都是針對(duì)制造用原材料進(jìn)行的，對(duì)于產(chǎn)成品和在用品，除非不準(zhǔn)備讓其繼續(xù)服役，否則是不能進(jìn)行破壞性檢測(cè)的，而無(wú)損檢測(cè)因不損壞被檢測(cè)對(duì)象的使用性能。所以，它不僅可對(duì)制造用原材料，各中間工藝環(huán)節(jié)、直至最終產(chǎn)成品進(jìn)行全程檢測(cè)，也可對(duì)服役中的設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。

無(wú)損檢測(cè)發(fā)展

無(wú)損檢測(cè)已不再是僅僅使用X 射線，包括聲、電、磁、電磁波、中子、激光等各種物理現(xiàn)象幾乎都被用做于了無(wú)損檢測(cè)，譬如：超聲檢測(cè)、渦流檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、射線檢測(cè)、滲透檢測(cè)、目視檢測(cè)、紅外檢測(cè)、微波檢測(cè)、泄漏檢測(cè)、聲發(fā)射檢測(cè)、漏磁檢測(cè)、磁記憶檢測(cè)、熱中子照相檢測(cè)、激光散斑成像檢測(cè)、光纖光柵傳感技術(shù)，等等，而且還在不斷地開(kāi)發(fā)和應(yīng)用新的方法和技術(shù)。

一些看上去非常傳統(tǒng)的無(wú)損檢測(cè)方法，實(shí)際上也已經(jīng)發(fā)展出了許多新技術(shù)，譬如：

射線檢測(cè)——傳統(tǒng)技術(shù)是：膠片射線照相（X 射線和伽馬射線）。新技術(shù)有：加速器高能X射線照相、數(shù)字射線成像（DR）、計(jì)算機(jī)射線照相（CR，類似于數(shù)碼照相）、計(jì)算機(jī)層析成像（CT）、射線衍射等等。

超聲檢測(cè)——傳統(tǒng)技術(shù)是：A 型超聲（A 掃描超聲，A 超）。新技術(shù)有：B 掃描超聲（B 超）、C 掃描超聲（C 超）、超聲衍射（TOFD）、相控陣超聲、共振超聲、電磁超聲、超聲導(dǎo)波等等。