微電子材料中硅片直徑測量的檢測

檢測項：硅片直徑測量 檢測樣品：微電子材料 標準：GB/T14140-2009 硅片直徑測量方法

檢測機構：國家材料分析檢測中心 更多相關信息>>

光伏硅片中氧含量的檢測

檢測項：氧含量 檢測樣品：光伏硅片 標準：硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量方法 GB/T 1557-2018

檢測機構：國家電子電器產品檢測中心 更多相關信息>>

北京科大分析檢驗中心有限公司

檢測項：電阻率 (電阻系數) 檢測樣品：半導體材料 標準：硅片電阻率測定 擴展電阻探針法 GB/T 6617-2009

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

連云港市質量技術綜合檢驗檢測中心

檢測項：III-V族雜質含量 檢測樣品：晶體硅 標準：《半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測定非接觸渦流法》 GB/T 6616-2009

檢測項：直徑及允許偏差 檢測樣品：晶體硅 標準：《硅片直徑測量方法》 GB/T 14140-2009

檢測項：徑向電阻率變化測量 檢測樣品：晶體硅 標準：《硅片徑向電阻率變化的測量方法》 GB/T 11073-2007

機構所在地：江蘇省連云港市 更多相關信息>>

萬向硅峰電子股份有限公司檢測中心

檢測項：氧含量 檢測樣品：硅片 標準：《硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量方法》GB/T 1557-2006

檢測項：碳含量 檢測樣品：硅片 標準：《硅中代位碳原子含量紅外吸收測量方法》GB/T 1558-2009

檢測項：電阻率 檢測樣品：硅片 標準：《硅單晶電阻率測定方法》GB/T 1551-2009

機構所在地：浙江省衢州市 更多相關信息>>