半導體集成電路霍爾效應數字開關電路中輸出高電平電壓VOH的檢測

檢測項：輸出高電平電壓VOH 檢測樣品：半導體集成電路霍爾效應數字開關電路 標準：半導體器件 集成電路 第2部分：數字電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第二節第1條

檢測機構：國家電子電器產品檢測中心 更多相關信息>>

中國電信集團廣東省電信公司艾特實驗室

檢測項：網絡側和用戶側接口測試 檢測樣品：數字電路倍增設備 標準：使用自適應差分脈沖編碼調制(ADPCM)和數字話音插空(DSI)的數字電路倍增設備 YD/T 1018-1999

檢測項：傳輸性能測試 檢測樣品：數字電路倍增設備 標準：使用自適應差分脈沖編碼調制(ADPCM)和數字話音插空(DSI)的數字電路倍增設備 YD/T 1018-1999

檢測項：功能驗證 檢測樣品：數字電路倍增設備 標準：使用自適應差分脈沖編碼調制(ADPCM)和數字話音插空(DSI)的數字電路倍增設備 YD/T 1018-1999

機構所在地：廣東省廣州市 更多相關信息>>

武漢網銳實驗室(信息產業光通信產品質量監督檢驗中心)

檢測項：直流供電 檢測樣品：數字電路倍增設備（DCME） 標準：YD/T 974-1998 SDH數字交叉連接設備(SDXC)技術要求和測試方法

檢測項：功能測試 檢測樣品：數字電路倍增設備（DCME） 標準：YD/T 655-94 34368kbit/s光端機質量分等標準

檢測項：設備外觀及附件檢驗 檢測樣品：數字電路倍增設備（DCME） 標準：YD/T 655-94 34368kbit/s光端機質量分等標準

機構所在地：湖北省武漢市 更多相關信息>>

成都泰瑞通信設備檢測有限公司

檢測項：電接口 檢測樣品：數字電路倍增設備 標準：GB/T 13997-1999 2048kbit/s、8448kbit/s、34368kbit/s、139264kbit/s光端機技術要求

機構所在地：四川省成都市 更多相關信息>>

北京振興計量測試研究所

檢測項：交流參數 檢測樣品：數字電路 標準：半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半導體集成電路TTL測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半導體集成電路雙極性隨機存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導體集成電路

檢測項：直流參數 檢測樣品：數字電路 標準：半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半導體集成電路TTL測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半導體集成電路雙極性隨機存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導體集成電路

機構所在地：北京市 更多相關信息>>