樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路

檢測(cè)項(xiàng)目：輸入高電平電流 IIH

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路》 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié) 2

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路 輸入高電平電流 IIH 《半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路》 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié) 2