樣品名稱：集成電路-MCU 芯片

檢測(cè)項(xiàng)目：靜電放電-帶電器件模型檢測(cè)（ESD-CDM）

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：T/CIE073-2037 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 8 部分： MCU 芯片

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 集成電路-MCU 芯片 靜電放電-帶電器件模型檢測(cè)（ESD-CDM） T/CIE073-2037 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 8 部分： MCU 芯片