樣品名稱：電子元器件及設(shè)備（機(jī)械性能）

檢測項目：掃頻振動

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電路機(jī)械試驗方法 第2部分：方法2000～2999 MIL-STD-883-2：2019 方法2007.3

服務(wù)地點：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 電子元器件及設(shè)備（機(jī)械性能） 掃頻振動 微電路機(jī)械試驗方法 第2部分：方法2000～2999 MIL-STD-883-2：2019 方法2007.3