樣品名稱(chēng)：通用電子元器件（破壞性物理分析）

檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)部氣體成份分析

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0501、0703中2.5條，0701、1002中2.6條，0702、0901、0902、1003、1101、1102、1201~1301中2.7條

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 通用電子元器件（破壞性物理分析） 內(nèi)部氣體成份分析 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0501、0703中2.5條，0701、1002中2.6條，0702、0901、0902、1003、1101、1102、1201~1301中2.7條