樣品名稱：通用電子元器件（破壞性物理分析）

檢測(cè)項(xiàng)目：鍵合強(qiáng)度

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項(xiàng)目0106-2.7、0311-2.4、0901-2.8、0902-2.7、1003-2.9、1101-2.8、1102-2.8、1103-2.6、1201-2.8、1202-2.8、13

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 通用電子元器件（破壞性物理分析） 鍵合強(qiáng)度 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項(xiàng)目0106-2.7、0311-2.4、0901-2.8、0902-2.7、1003-2.9、1101-2.8、1102-2.8、1103-2.6、1201-2.8、1202-2.8、13