樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路

檢測(cè)項(xiàng)目：密封 細(xì)檢漏

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路 密封 細(xì)檢漏 半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990