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樣品名稱：半導體集成電路
檢測項目：密封 粗檢
認可資質：CNAS
檢測標準：半導體集成電路總規(guī)范GJB597B-2012
服務地點：北京市
適用范圍：電子電氣
標簽： 半導體集成電路 密封 粗檢 半導體集成電路總規(guī)范GJB597B-2012
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