樣品名稱：電鏡分析

檢測項目：SEM：二次電子像，背散射電子的高、低電壓高分辨成像 ；EDS：點分析、線掃描、面分布；

認可資質：其它

檢測標準：GB/T25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數的測定方法

服務地點：北京市

適用范圍：材料分析

標簽： 電鏡分析 SEM：二次電子像，背散射電子的高、低電壓高分辨成像 ；EDS：點分析、線掃描、面分布； GB/T25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數的測定方法